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X射线残余应力测量仪器
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更新时间:2024-09-23  |  阅读:2248

详情介绍

X射线残余应力测量仪器根据的是布拉格定律,使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法,是测量铁素体钢的X射线衍射法,也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。


此设计主要是针对应力测量用的,非常方便,对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用,也可在户外使用,携带方便,一个人就可完成。只需要一个电源,从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接,把主单元与计算机用一根电缆连接上,就可进行其它扩展应用。


X射线残余应力测量仪器技术指标:

电缆线:标准配置为5米

电源:100-240 VAC,50/60Hz,600V

尺寸:主控单元 X3003:552x413x254mm

测角仪 G3:555x492x574mm

测角仪 G3R:966x573x605mm


技术特点:

1.准确、可靠、精度高;

2.检测量程宽;      

3.操作简单,易于校准和维护;

4.方便快捷,两分钟之内完成整个操作过程;

5.采用超密封稳定结构,确保了在恶劣环境下测量准确性。


可实现残余应力和奥氏体同时测量
X射线源不需要水冷,方便安装和移动使用
系统超高灵敏度,超高测量速度和可靠性
适合测量的材料范围广
配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力
便携方便,可在实验室和野外现场测量

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